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名称: TEM图像分析器 描述: 用于纳米颗粒尺寸、形貌和晶体结构评估的透射电子显微镜图像分析技能 允许工具:

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• Bash 元数据: 专业领域: 纳米技术 应用领域: 科学 类别: 显微表征 优先级: 高 阶段: 6 工具库:
  • ImageJ/Fiji
  • Gatan DigitalMicrograph
  • JEMS
  • CryoSPARC

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TEM图像分析器

目的

TEM图像分析器技能提供透射电子显微镜数据的全面分析，用于纳米材料表征，实现自动颗粒检测、尺寸分布分析和晶体结构确定。

功能

• 自动颗粒检测与尺寸测量
• 形貌分类
• 晶格条纹分析
• 选区电子衍射（SAED）标定
• 高分辨透射电镜（HRTEM）分析
• STEM-HAADF成像分析

使用指南

图像分析工作流程

1. 颗粒检测

   • 应用适当阈值处理
   • 使用分水岭算法处理接触颗粒
   • 统计至少200个颗粒以获得可靠数据

2. 尺寸测量

   • 根据比例尺校准像素尺寸
   • 测量费雷特直径或等效圆直径
   • 报告平均值、标准差和分布情况

3. 晶体学分析

   • 标定SAED图谱以确定物相
   • 从晶格条纹测量晶面间距
   • 从HRTEM图像确定晶带轴

流程集成

• 多模态纳米材料表征流程
• 统计颗粒尺寸分布分析
• 原位表征实验设计

输入模式

{
  "图像路径": "字符串",
  "分析类型": "尺寸测量|形貌分析|晶体学分析",
  "比例尺": {"长度": "数值", "像素数": "数值"},
  "预期材料": "字符串（用于标定）"
}

输出模式

{
  "颗粒统计": {
    "数量": "数值",
    "平均尺寸": "数值（纳米）",
    "标准差": "数值（纳米）",
    "尺寸分布": {"区间": [], "计数": []}
  },
  "形貌": {
    "形状": [{"类型": "字符串", "比例": "数值"}],
    "长宽比": "数值"
  },
  "晶体学": {
    "物相": "字符串",
    "晶面间距": ["数值（纳米）"],
    "晶带轴": "字符串"
  }
}