name: tof-sims-analyzer description: 飞行时间二次离子质谱技能，用于分子表面分析和成像 allowed-tools:
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metadata:
specialization: 纳米技术
domain: 科学
category: 表面分析
priority: medium
phase: 6
tools-libraries:
- ION-TOF 软件
- SurfaceLab
- NESAC/BIO 工具
ToF-SIMS 分析器
目的
ToF-SIMS 分析器技能为纳米材料提供分子级别的表面分析能力，能够以高灵敏度识别表面物种、进行化学成像和深度剖析。
能力
- 分子离子识别
- 表面污染分析
- 2D 和 3D 化学成像
- 同位素标记检测
- 深度剖析
- 光谱主成分分析
使用指南
ToF-SIMS 分析
-
光谱分析
- 识别特征碎片
- 为材料建立峰列表
- 应用多变量分析
-
成像模式
- 优化空间分辨率
- 生成化学分布图
- 与形貌图关联
-
深度剖析
- 选择合适的溅射源
- 监测界面锐度
- 考虑基体效应
流程集成
- 多模态纳米材料表征流程
- 纳米材料表面功能化流程
输入模式
{
"sample_id": "string",
"analysis_mode": "spectral|imaging|depth_profile",
"primary_ion": "Bi3+|Bi1+|C60+",
"polarity": "positive|negative",
"area_of_interest": {"x": "number", "y": "number"}
}
输出模式
{
"identified_species": [{
"mass": "number (amu)",
"assignment": "string",
"intensity": "number"
}],
"chemical_maps": [{
"species": "string",
"image_path": "string"
}],
"pca_results": {
"principal_components": "number",
"variance_explained": ["number"]
}
}