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name: xrd-crystallography-analyzer description: X射线衍射技能，用于纳米材料的晶体结构、物相鉴定和晶粒尺寸分析 allowed-tools:

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• Bash metadata: specialization: 纳米技术 domain: 科学 category: 光谱学 priority: high phase: 6 tools-libraries:
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XRD晶体学分析器

目的

XRD晶体学分析器技能通过X射线衍射分析提供纳米材料的晶体学表征，实现物相鉴定、晶粒尺寸测定和结构精修。

能力

• 物相鉴定和Rietveld精修
• 晶粒尺寸测定（谢乐公式）
• 晶格参数计算
• 择优取向分析
• 原位XRD能力
• PDF（对分布函数）分析

使用指南

XRD分析

1. 物相鉴定

   • 将衍射峰与数据库条目匹配
   • 识别多相
   • 评估物相纯度

2. 晶粒尺寸

   • 应用谢乐公式：D = Kl/(B cos theta)
   • 考虑仪器展宽
   • 使用Williamson-Hall法分析应变

3. 结构精修

   • 执行Rietveld精修
   • 提取晶格参数
   • 量化物相分数

流程集成

• 多模态纳米材料表征流程
• 结构-性能关联分析
• 纳米颗粒合成方案开发

输入模式

{
  "diffraction_file": "string",
  "analysis_type": "phase_id|crystallite_size|refinement|pdf",
  "wavelength": "number (Angstrom)",
  "expected_phases": ["string"]
}

输出模式

{
  "phases": [{
    "name": "string",
    "pdf_number": "string",
    "weight_fraction": "number"
  }],
  "crystallite_size": {
    "value": "number (nm)",
    "method": "string"
  },
  "lattice_parameters": {
    "a": "number",
    "b": "number",
    "c": "number",
    "space_group": "string"
  },
  "refinement_quality": {
    "Rwp": "number",
    "chi_squared": "number"
  }
}